Неразрушающие методы испытаний (продолжение) - Определение глубины расположения дефекта
Содержание материала
- Неразрушающие методы испытаний (продолжение)
- Порошковый метод
- Применение магнитоскопов
- Магнитные толщиномеры
- Определение напряжений с помощью магнитоупругого тестера
- Метод «магнитных меток»
- Приборы магнитно-индукционного типа
- Определение влажности древесины
- Область применения рентгеновского и гамма-излучений
- Определение глубины расположения дефекта
- Определение напряженного состояния металла
- Приборы неразрушающего контроля нового поколения
- Классификация видов подобия
- Практические задачи моделирования
- Все страницы
Глубина расположения дефекта выявляется смешением источника излучения параллельно фотопластинке.
Схема определения положения дефекта незначительной толщины показана на рис.2. При этом расстояние х от дефекта до поверхности снимка определяется из соотношения
, (3.6.)
где с, с' и F - размеры, показанные на рис. 2.
При дефектах одинакового размера и формы интенсивность потемнения будет наибольшей при совпадении направления дефекта с направлением просвечивания (рис.3, поз. 2).
При расположении дефекта под некоторым углом (рис.3, поз. 2') излучения будут пересекать его по меньшему протяжению. Минимальная длина до пересечения, а, следовательно, и наименьшая интенсивность потемнения, соответствует ориентировке дефекта перпендикулярно направлению просвечивания (рис.3, поз. 2").
Рис.2. Определение глубины расположения дефекта:
1 - просвечиваемый элемент; 2 - дефект. 3 - фотопленка; 4 и 4' - источник излучения в двух позициях; 5 и 5' - затемненные участки фотопленки; с - смешение источника излучения; с' - смешение центра заснятого изображения, F - фокусное расстояние; х - расстояние от фотопленки до горизонтальной оси дефекта.